PXB-S系列探针台
PXB-S系列探针台主要特点
●可选配高温测试环境
●可选直筒显微镜和体式显微镜
●载物台可Z轴升降
●载物台Theta可粗调360°, 微调±7 °
●载物台XY移动分辨率为1um。
●可选配高压高流测试环境
●快速装片并可任意位置锁定功能
●显微镜支架万向杆
PXB-S系列探针台应用领域
●Failure analysis集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring制成监控
●Package part probingIC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing微波量测(高频测试)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED 、OLED 、LCD领域检测分析
●PCB领域检测分析
●VESELDFB,COC,硅光等光电器件测试
PXB-M系列探针台
PXB-M系列探针台主要特点
●可选配高温测试环境
●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜
●载物台可Z轴升降
●载物台Theta可粗调360°, 微调±7 °
●载物台XY移动分辨率为1um
●可选配高压高流测试环境
●快速装片并可任意位置锁定功能
●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um，显微镜气动升降
PXB-M系列探针台应用领域
●Failure analysis集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring制成监控
●Package part probingIC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing微波量测(高频测试)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED 、OLED 、LCD领域检测分析
●PCB领域检测分析
●VESELDFB,COC,硅光等光电器件测试
PXB-E系列探针台
PXB-E系列探针台主要特点
●可选配高温测试环境
●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜
●载物台气浮快速移动
●可选配高压高流测试环境
●快速装片并可任意位置锁定功能
●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降
●Platen 三阶抬杆，微调移动行程为40mm，抬杆重复性精度为2um
PXB-E系列探针台应用领域
●Failure analysis集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring制成监控
●Package part probingIC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing微波量测(高频测试)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED 、OLED 、LCD领域检测分析
●PCB领域检测分析
●VESELDFB,COC,硅光等光电器件测试
PXB-BE系列探针台
PXB-BE系列探针台主要特点
●可选配高温测试环境
●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜
●载物台气浮快速移动，三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制
●可选配高压高流测试环境
●快速装片并可任意位置锁定功能
●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降
●Platen 二阶抬杆，微调移动行程为60mm，
抬杆重复性精度为1um
●配置独立控制压力阀
PXB-BE系列探针台应用领域
●Failure analysis集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Processmonitoring 制成监控
●Package part probingIC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing微波量测(高频测试)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED 、OLED 、LCD领域检测分析
●PCB领域检测分析
●VESELDFB,COC,硅光等光电器件测试
PXB-BET系列探针台
PXB-BET系列高低温探针台主要特点
●搭配高低温系统， zui大范围-65℃到300℃
●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜
●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步 控制
●可选配高压高流测试环境
●装片拉出装置， 定位锁住
●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降
●Platen 二阶抬杆， 一次性行程为6mm，抬
杆重复性精度为1um， 四点同步
●配置独立控制气流阀
PXB-BET系列高低温探针台应用领域
●Failure analysis集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Processmonitoring 制成监控
●Package part probingIC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing微波量测(高频测试)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED 、OLED 、LCD领域检测分析
●PCB领域检测分析
●VESELDFB,COC,硅光等光电器件测试
PXB-D系列探针台
PXB-D系列探针台主要特点
●可选配高温测试环境
●可选直筒显微镜，体式显微镜
●载物台气浮快速移动
●可选配高压高流测试环境
●platen上下结构，可正反面同时扎针
●载物台双面镂空，可替换，一个镂空夹具，一个载物台（两个吸附孔）
●背置式直筒显微镜，zoom为0.58-7.5x
●Platen微调行程为40mm，移动分辨率为1um， 四点同步
PXB-D系列探针台应用领域
●Failure analysis集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring制成监控
●Package part probingIC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing微波量测(高频测试)
●PCB领域检测分析
PXB-W系列探针台
PXB-W系列探针台主要特点
●可选配110Ghz，220Ghz等测试环境
●搭配高低温系统，zui大范围-65℃到300℃
●可选直筒显微镜，体式显微镜或金相显微镜
●载物台气浮快速移动，三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制
●装片拉出装置，定位锁住
●稳定型显微镜桥架，移动分辨率为2um，显微镜气动升降
●Platen二阶抬杆，一次性行程为6mm，抬杆重复 性精度为1um，四点同步
●配置独立控制气流阀
PXB-W系列探针台应用领域
●Microwave probing微波量测(高频测试)
PXB-PL系列探针台
PXB-PL系列探针台(定制型)
针对PCB&LCD&OLED&MINI-LED研发的测试探针台
主要客户：英业达，沪利，深南电路，美维，奥克斯，大金，龙腾光电，群策等
PXB-VL系列探针台
PXB-VL系列探针台产品简介
PXB-VL高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极
端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的
IV/CV特性测试，射频测试，光电测试等。通过液氮或者压缩机制
冷，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料 ，半
导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。
PXB-SA系列探针台
PXB-SA系列探针台产品简介
PXB-SA系列探针台是一款在非真空条件下实现高低温环境的测试探针台。
该产品采用气冷制冷 ，自动控温，设备配置非常丰富。自带屏蔽暗
室 ，一方面可以屏蔽无线电磁干扰，另外一方面也可以保持氮气正
压环境下样品在低温时无结霜。该产品多数用于相关单位实验室。
PXB-SA系列探针台产品优势
可搭配高低温温控系统,温度范围为-60-300℃
可实现半自动测试
微腔屏蔽