膜材在背光、显示屏、3C产品等方面应用广泛，彤光电子科技在背光、模组视觉检测市场占有率的情况下，发挥自主研发视觉软件的优势，拓展到上下游材料的外观检测，如扩散膜、导光板、偏光片等薄膜的检测，已经成功在大客户应用。薄膜视觉检测，彤光是终的选择！东莞市彤光电子科技深耕自动化光学检测领域十余载，积淀了浓厚的技术基础，完全独立自主开发的软件获得了业内客户的广泛认可，在显示领域已与国内多家头部企业合作，欢迎咨询了解。彤光模组检测，赋能新智造。
模组检测的光源很重要
另一个测试好光源的方法是看光源是否对部件的位置敏感度小。当光源放置在摄像头视野的不同区域或不同角度时，结果图像应该不会随之变化。方向性很强的光源，增大了对高亮区域的镜面反射发生的可能性，这不利于后面的特征提取。好的光源需要能够使你需要寻找的特征非常明显，除了是摄像头能够拍摄到部件外，好的光源应该能够产生大的对比度、亮度足够且对部件的位置变化不敏感。光源选择好了，剩下来的工作就容易多了。具体的光源选取方法还在于试验的实践经验。彤光电子是专门从事销售模组检测的企业，需要模组检测的朋友可以来电咨询，我们会竭诚为您服务。
模组检测错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困错判的三种了解及造成缘故能够分成以下几个方面：1、元器件及点焊原本有产生欠佳的趋向，但处在允收范畴。如元器件原本发生了偏位，但在允收范畴内；该类错判主要是因为预设值设置过严导致的，也可能是其自身处于欠佳与优品规范中间，AOI与MV(人力目检)确定导致的误差，该类错判是能够根据调节及与MV融洽规范来减少。2、元器件及点焊无不良倾向，但因为DFM设计方案时未考虑到AOI的可测性，而导致AOI判断良是否有一定的难度系数，为确保验出实际效果，将引进一些错判。如焊层设计方案的太窄或过短，模组检测开展检验时较难开展很的判断，此类情况所导致的错判较难清除，除非是改善DFM或舍弃该类元器件的点焊欠佳检验。